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管線探測儀RD8000技術指標
2013-06-27 管線探測儀RD8000技術指標:靈敏度：6E-15Tesla,5μA1米處（33Hz）動態范圍：140dBrms/√Hz選擇性：120dB/Hz深度準確度：直連：0.1-3米誤差為±2.5探棒：0.1-7米誤差為2.5%大深度*：管線為6米，探棒為18米定位精度：±2.5%故障查找（FF）：用A字架檢測高達2MΩ的電纜外皮故障電流故障查找：220HZto4KHZ電池：接收機：2xD-cells（LR20）發射機：8xD-cells（LR20）電池壽...
Fluke Ti10 紅外熱像儀技術參數
2013-06-19 FlukeTi10紅外熱像儀關鍵詞：FlukeTi10紅外熱像儀、FlukeTi10、紅外熱像儀、福祿克排障和維護工作的*工具該熱像儀是提高解決故障能力的工具。這款高性能、全輻射成像儀專門針對惡劣的工作環境而優化設計，非常適合于電氣安裝、機電設備、過程設備、HVAC/R設備及其它更多應用的排障工作。IR-Fusion®技術以兩種方式觀察圖像－紅外和可見光圖像融合在一起，更快、更方便地溝通關鍵信息－傳統紅外圖像已力不從心。已申請的IR-Fusion技術可同時除了捕獲紅外...
GDYS-201S五合一多參數水質分析儀技術參數
2013-06-08 GDYS-201S五合一多參數水質分析儀慧龍環科熱銷熱門關鍵詞：GDYS-201S五合一多參數水質分析儀，GDYS-201S五合一多參數水質分析儀，北京慧龍環科GDYS-201S五合一多參數水質分析儀儀器特點：*國家標準方法或比色法*檢測時間3-10分鐘*一次性試劑盒*直接顯示樣品溶液濃度值*可現場定量檢測出水質中5種參數GDYS-201S五合一多參數水質分析儀技術指標：*測定范圍：氨氮：0.10-5.00mg/L溶解氧：0.1-10.0mg/LPH：0.0-14.0鹽度：0...
GDYQ-1400S抗生素檢測儀技術參數
2013-06-07 GDYQ-1400S抗生素檢測儀慧龍環科熱銷熱門關鍵詞：GDYQ-1400S抗生素檢測儀，GDYQ-1400S抗生素檢測儀，北京慧龍環科GDYQ-1400S抗生素檢測儀儀器特點：*全中文液晶顯示，程序基于問答式，人性化的設計使操作更方便快捷，易于掌握。*可*由電腦控制操作，實現酶免工作站。*儀器開機自動檢查、校準、可保證每次工作儀器均處于正常狀態。*內置振蕩功能，可根據需要編輯振蕩形式，促使終止液充分混勻，保證結果的可靠性。*多種方法學測量，可進行定性和定量測試。*具有臨界值...
GDYN－300S皮革水解蛋白檢測儀技術參數
2013-06-06 GDYN－300S皮革水解蛋白檢測儀北京總代理熱門關鍵詞：GDYN－300S皮革水解蛋白檢測儀，GDYN－300S皮革水解蛋白檢測儀，北京慧龍環科GDYN－300S皮革水解蛋白檢測儀儀器特點：*符合衛生部方法《乳與乳制品中皮革水解蛋白鑒定－L（－）－羥脯氨酸含量測定》。*光源系統⑴采用全固態冷光源既作光源又作單色器，與傳統分光系統相比，結構簡單，具有更高的穩定性、抗震、抗潮性能。⑵光源/單色器、比色槽、傳感器一體化，無可動部件，增加儀器的穩定性、可靠性。⑶采用脈沖供電方式，光...
NAR-4T阿貝折光儀（高折射率）技術參數
2013-06-05 NAR-4T阿貝折光儀（高折射率）北京總代理熱門關鍵詞：NAR-4T阿貝折光儀（高折射率），NAR-4T阿貝折光儀（高折射率），北京慧龍環科NAR-4T阿貝折光儀（高折射率）產品描述：新材質在現代科技的研發一直被各個工業領域所積極運用。許多新材質（特別是聚合物膠卷和相關材質）具有相當高的折射指數-通常太高以致于現行的阿貝折射儀無法測量，但是現在測量范圍在nD1.4700至1.8700的4T產品已經能夠做到。NAR-4T阿貝折光儀（高折射率）技術參數：型號NAR-4T貨號124...
DHJF-4005低溫（恒溫）攪拌反應浴技術參數
2013-06-04 DHJF-4005低溫（恒溫）攪拌反應浴北京總代理熱門關鍵詞：DHJF-4005低溫（恒溫）攪拌反應浴，DHJF-4005低溫（恒溫）攪拌反應浴，北京慧龍環科DHJF-4005低溫（恒溫）攪拌反應浴用途特點：可替代干冰和液氮做低溫反應，高控溫精度，主要用于燒瓶、燒杯、試管等的冷卻、加熱、恒溫等。用于醫院、科研、高校在生物酶等方面的實驗、檢測和鑒定。●溫度數字設定和顯示。●全封閉式磁力攪拌器，保證攪拌穩定性。●可配備內置二級攪拌，與反應容器內的攪拌子一起，使試料的溫度保持均勻一...
WGL光電輪廓儀
2013-06-03 WGL光電輪廓儀北京總代理熱門關鍵詞：WGL光電輪廓儀，WGL光電輪廓儀，北京慧龍環科WGL光電輪廓儀特點：本儀器采用非接觸、光學相移干涉測量方法，測量時不損傷工件表面，能快速測得各種工件表面微觀形貌的立體圖形，并分析計算出測量結果。適用于測量各種量塊、光學零件表面的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結構鍍層厚度和鍍層邊界處的結構形貌；磁（光）盤、磁頭表面結構測量；硅片表面粗糙度及其上圖形結構測量等等。由于儀器測量精度高，具有非接觸和三維測量的特點，并采用計算機控制和快...

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